INFORMACIÓN ÚTIL

En este apartado hemos incluido una serie de vínculos a páginas que ofrecen gratuitamente información útil referente a  las técnicas disponibles.

BASES DE DATOS

 XPS : LaSurface, NIST, AUGER PARAMETER, ELECTRON BINDING ENERGIES

PROGRAMAS GRATUITOS DE PROCESAMIENTO

Programas XPS: CasaXPS   Programas AFM: Nanotec

ARTÍCULOS

XPS: 1     TOF-SIMS: 1, 2       AFM y Perfilometría:

TUTORIALES

XPS: 1, 2, 3    TOF_SIMS: 1      AFM y Perfilometría: