INFORMACIÓN ÚTIL
En este apartado hemos incluido una serie de vínculos a páginas que ofrecen gratuitamente información útil referente a las técnicas disponibles.
BASES DE DATOS
XPS : LaSurface, NIST, AUGER PARAMETER, ELECTRON BINDING ENERGIES
PROGRAMAS GRATUITOS DE PROCESAMIENTO
Programas XPS: CasaXPS Programas AFM: Nanotec
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XPS: 1 TOF-SIMS: 1, 2 AFM y Perfilometría:
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